Microscopie d’Objets Sensibles avec des Tensions Réduites et les Aberrations corrigées
L’ONERA conduit des études fondamentales et appliquées sur une très vaste gamme de matériaux à vocation structurale ou fonctionnelle pour des applications dans les domaines aéronautique, spatial et défense. Un des enjeux majeurs est d’accélérer la maturation de ces matériaux pour des applications reliées au transport ou à la détection. Dans ce contexte, l’ONERA se dote en 2023 d’un microscope électronique en transmission permettant la caractérisation d’une très large gamme de matériaux allant des nanomatériaux aux alliages massifs. Le financement provient de l’ONERA, de la région Île-de-France, du CNRS ainsi que des laboratoires partenaires du projet (LEM, UMPhy, GEMaC). Cet équipement permettra des analyses structurales, chimique et physiques à l’échelle nanométrique en utilisant une gamme étendue de tensions d’accélération (30 kV – 200 kV). Il aura la spécificité de permettre la cartographie de champs physiques (STEM 4D) ainsi que la spectroscopie de perte d’énergie résolue en angle (AR-EELS). Le microscope sera intégré dans une plateforme, appelée MOSTRA, ouverte aux communautés académiques et industrielles. La plateforme sera déployée en 2024 au sein du Département Matériaux et Structures de l’ONERA sur le site de Châtillon. Elle sera intégrée au LEM et placée sous la responsabilité de Frédéric Fossard.